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Anomalous X-ray scattering for mater...
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  • Anomalous X-ray scattering for materials characterization = atomic-scale structure determination /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Anomalous X-ray scattering for materials characterization/ Yoshio Waseda.
    其他題名: atomic-scale structure determination /
    作者: Waseda, Yoshio.
    出版者: Berlin ;Springer, : c2002.,
    面頁冊數: xiii, 214 p. :ill., digital ;24 cm.
    叢書名: Springer tracts in modern physics,
    Contained By: Springer eBooks
    標題: X-ray crystallography. -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/3-540-46008-X
    ISBN: 9783540434436 (paper)
館藏地:  出版年:  卷號: 
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