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[ author_sort:"drechsler, rolf." ]
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High quality test pattern generation...
~
Eggersgluss, Stephan.{me_controlnum}
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High quality test pattern generation and boolean satisfiability
紀錄類型:
書目-電子資源 : Monograph/item
正題名/作者:
High quality test pattern generation and boolean satisfiability/ by Stephan EggersgluB, Rolf Drechsler.
作者:
Eggersgluss, Stephan.{me_controlnum}
其他作者:
Drechsler, Rolf.
出版者:
Boston, MA :Springer US, : 2012.,
面頁冊數:
xviii, 193 p. :ill., digital ;24 cm.
Contained By:
Springer eBooks
標題:
Integrated circuits - Testing. -
電子資源:
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
ISBN:
9781441999764 (electronic bk.)
High quality test pattern generation and boolean satisfiability
Eggersgluss, Stephan.{me_controlnum}
High quality test pattern generation and boolean satisfiability
[electronic resource] /by Stephan EggersgluB, Rolf Drechsler. - Boston, MA :Springer US,2012. - xviii, 193 p. :ill., digital ;24 cm.
ISBN: 9781441999764 (electronic bk.)Subjects--Topical Terms:
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Integrated circuits
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Dewey Class. No.: 621.395
High quality test pattern generation and boolean satisfiability
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全部
電子資源
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卷號:
館藏
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11.線上閱覽_V
電子書
EB TK7874 .E34 2012
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