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[ subject:"半導體- 材料" ]
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矽材料檢測技術 /
~
康偉超
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矽材料檢測技術 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
矽材料檢測技術 / / 康偉超,王麗主編
其他題名:
硅材料检测技术
其他作者:
康偉超
出版者:
北京市 : 化學工業出版社, : 2009[民98],
面頁冊數:
[3,144]面 : 圖 ; 26公分
附註:
內容為簡體字
標題:
矽 -
ISBN:
9787122055682
矽材料檢測技術 /
矽材料檢測技術 /
硅材料检测技术康偉超,王麗主編 - 第1版 - 北京市 : 化學工業出版社, 2009[民98] - [3,144]面 : 圖 ; 26公分 - 太陽能光伏產業, 矽材料系列教材. - 太陽能光伏產業. 矽材料系列教材.
內容為簡體字
參考書目:面[144]
本書介紹了半導體矽材料常規電學參數的物理測試方法、檢測晶體缺陷的化學腐蝕法、半導體晶體定向法、硅單晶中氧和碳含量的測定方法等。
高等院校相關專業師生、從事硅產品生產的技術人員及相關讀者。
ISBN: 9787122055682人民幣27元Subjects--Topical Terms:
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矽
矽材料檢測技術 /
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
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索書號
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E0659287
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
448.65 0024 2009
一般使用(Normal)
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