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微納米MOS器件可靠性與失效機理 /

~

郝躍

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博客來

微納米MOS器件可靠性與失效機理 /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	微納米MOS器件可靠性與失效機理 / / 郝躍,劉虹俠著
remainder title:	微纳米MOS器件可靠性与失效机理
Author:	郝躍
other author:	劉虹俠
Published:	北京市 : 科學出版社, : 2008[民97],
Description:	14,446面 : 圖,表 ; 24公分
Subject:	奈米 -
ISBN:	9787030205865

微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
郝躍

微納米MOS器件可靠性與失效機理 / 微纳米MOS器件可靠性与失效机理郝躍,劉虹俠著 - 第1版 - 北京市 : 科學出版社, 2008[民97] - 14,446面 : 圖,表 ; 24公分 - 半導體科學與技術叢書. - 半導體科學與技術叢書.

含參考書目

ISBN: 9787030205865人民幣78元Subjects--Topical Terms:

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奈米

微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
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260 $a 北京市 : $b 科學出版社, $c 2008[民97]
300 $a 14,446面 : $b 圖,表 ; $c 24公分
490 1 $a 半導體科學與技術叢書
504 $a 含參考書目
650 7 $a 奈米 $2 lcstt $3 2210931
650 7 $a 納米材料 $2 csht $3 2656482
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E0636770

四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)

01.外借(書)_YB

一般圖書

448.65 4767 2008

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