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微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
~
郝躍
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博客來
微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
微納米MOS器件可靠性與失效機理 / / 郝躍,劉虹俠著
其他題名:
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
作者:
郝躍
其他作者:
劉虹俠
出版者:
北京市 : 科學出版社, : 2008[民97],
面頁冊數:
14,446面 : 圖,表 ; 24公分
標題:
奈米 -
ISBN:
9787030205865
微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
郝躍
微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
微纳米MOS器件可靠性与失效机理郝躍,劉虹俠著 - 第1版 - 北京市 : 科學出版社, 2008[民97] - 14,446面 : 圖,表 ; 24公分 - 半導體科學與技術叢書. - 半導體科學與技術叢書.
含參考書目
ISBN: 9787030205865人民幣78元Subjects--Topical Terms:
2210931
奈米
微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
LDR
:00625nam a2200193 ir4500
001
921435
005
20121109110555.0
008
170420s2008 cc g 000 u chi d
020
$a
9787030205865
$q
(平裝) :
$c
人民幣78元
035
$a
LIB-BE-99-047
035
$a
921435
040
$a
NDHU
$b
chi
$e
ccr
084
$a
339.9
$b
4767
$2
ncsclt
100
1
$a
郝躍
$e
著
$3
2965126
245
1 0
$a
微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
$c
郝躍,劉虹俠著
246
1 3
$a
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
250
$a
第1版
260
$a
北京市 :
$b
科學出版社,
$c
2008[民97]
300
$a
14,446面 :
$b
圖,表 ;
$c
24公分
490
1
$a
半導體科學與技術叢書
504
$a
含參考書目
650
7
$a
奈米
$2
lcstt
$3
2210931
650
7
$a
納米材料
$2
csht
$3
2656482
700
1
$a
劉虹俠
$e
著
$3
2965127
830
0
$a
半導體科學與技術叢書
$3
2936453
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
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1
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館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
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E0636770
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
448.65 4767 2008
一般使用(Normal)
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