最新集成電路測試技術 /
高成

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  • 最新集成電路測試技術 /
  • Record Type: Language materials, printed : Monograph/item
    Title/Author: 最新集成電路測試技術 / / 高成,張棟,王香芬編著
    remainder title: 最新集成电路测试技术
    Author: 高成
    other author: 張棟
    Published: 北京市 : 國防工業出版社, : 2009[民98],
    Description: 6,290面 : 圖,表 ; 26公分
    Subject: 電路 -
    ISBN: 9787118060713
Location:  Year:  Volume Number: 
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E0636733 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 448.62 0053 2009 一般使用(Normal) On shelf 0
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