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溫度對微電子和系統可靠性的影響 /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	溫度對微電子和系統可靠性的影響 / / 拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯
remainder title:	温度对微电子和系统可靠性的影响
Author:	拉爾
other author:	貝克特
Published:	北京市 : 國防工業出版社, : 2008[民97],
Description:	[15],218面 : 圖,表 ; 24公分
Subject:	電子工程 -
ISBN:	9787118054842

溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
拉爾(Lall, Pradeep)

溫度對微電子和系統可靠性的影響 / 温度对微电子和系统可靠性的影响拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯 - 第一版 - 北京市 : 國防工業出版社, 2008[民97] - [15],218面 : 圖,表 ; 24公分

含索引

ISBN: 9787118054842人民幣32元Subjects--Topical Terms:

2083718
電子工程

溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
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100 1 $a 拉爾 $c (Lall, Pradeep) $e 著 $3 2967989
240 1 0 $a Influnce of temperature on microelectronics and system reliability
245 1 0 $a 溫度對微電子和系統可靠性的影響 / $c 拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯
246 1 3 $a 温度对微电子和系统可靠性的影响
250 $a 第一版
260 $a 北京市 : $b 國防工業出版社, $c 2008[民97]
300 $a [15],218面 : $b 圖,表 ; $c 24公分
504 $a 含索引
650 7 $a 電子工程 $2 lcstt $3 2083718
650 7 $a 實驗 $2 lcstt $3 2083574
700 1 $a 貝克特 $c (Pecht, Micheal G.) $e 著 $3 2967990
700 1 $a 哈金 $c (Hakim, Edward B.) $e 著 $3 2967991
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E0635629

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01.外借(書)_YB

一般圖書

448.618 5010 2008

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