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  • 溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 溫度對微電子和系統可靠性的影響 / / 拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯
    其他題名: 温度对微电子和系统可靠性的影响
    作者: 拉爾
    其他作者: 貝克特
    出版者: 北京市 : 國防工業出版社, : 2008[民97],
    面頁冊數: [15],218面 : 圖,表 ; 24公分
    標題: 電子工程 -
    ISBN: 9787118054842
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
E0635629 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 448.618 5010 2008 一般使用(Normal) 在架 0
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