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溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
溫度對微電子和系統可靠性的影響 / / 拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯
其他題名:
温度对微电子和系统可靠性的影响
作者:
拉爾
其他作者:
貝克特
出版者:
北京市 : 國防工業出版社, : 2008[民97],
面頁冊數:
[15],218面 : 圖,表 ; 24公分
標題:
電子工程 -
ISBN:
9787118054842
溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
拉爾(Lall, Pradeep)
溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
温度对微电子和系统可靠性的影响拉爾(Pradeep Lall),貝克特(Micheal G. Pecht),哈金(Edward B. Hakim)著 ; 賈穎,張德駿,劉汝軍譯 - 第一版 - 北京市 : 國防工業出版社, 2008[民97] - [15],218面 : 圖,表 ; 24公分
含索引
ISBN: 9787118054842人民幣32元Subjects--Topical Terms:
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電子工程
溫度對微電子和系統可靠性的影響 /
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
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館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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E0635629
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
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一般圖書
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一般使用(Normal)
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