奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspe...
汪若文

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  • 奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 奈米檢測技術 = / 伍秀菁,汪若文編輯
    其他題名: Avanced nano-scale inspection technology /
    其他題名: Avanced nano-scale inspection technology
    其他作者: 汪若文
    出版者: 新竹市 ; 臺北縣 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : : 民98[2009],
    面頁冊數: 24,654面 : 圖,表 ; 26公分
    標題: 奈米技術 -
    ISBN: 9789868140943
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
E0624650 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.7 2124 2009 一般使用(Normal) 在架 0
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