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奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspe...

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汪若文

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博客來

奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	奈米檢測技術 = / 伍秀菁,汪若文編輯
Reminder of title:	Avanced nano-scale inspection technology /
remainder title:	Avanced nano-scale inspection technology
other author:	汪若文
Published:	新竹市 ; 臺北縣 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : : 民98[2009],
Description:	24,654面 : 圖,表 ; 26公分
Subject:	奈米技術 -
ISBN:	9789868140943

奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology / Avanced nano-scale inspection technology伍秀菁,汪若文編輯 - 初版 - 新竹市 ; 臺北縣 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : 民98[2009] - 24,654面 : 圖,表 ; 26公分

含參考書目

ISBN: 9789868140943NT$800Subjects--Topical Terms:

1096895
奈米技術

奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
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250 $a 初版
260 $a 新竹市 ; 臺北縣 : $b 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : $b 全華總經銷, $c 民98[2009]
300 $a 24,654面 : $b 圖,表 ; $c 26公分
504 $a 含參考書目
504 $a 含索引
650 7 $2 cst $a 奈米技術 $3 1096895
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E0624650

四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)

01.外借(書)_YB

一般圖書

440.7 2124 2009

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