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奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspe...
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汪若文
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博客來
奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
奈米檢測技術 = / 伍秀菁,汪若文編輯
其他題名:
Avanced nano-scale inspection technology /
其他題名:
Avanced nano-scale inspection technology
其他作者:
汪若文
出版者:
新竹市 ; 臺北縣 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : : 民98[2009],
面頁冊數:
24,654面 : 圖,表 ; 26公分
標題:
奈米技術 -
ISBN:
9789868140943
奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
奈米檢測技術 =
Avanced nano-scale inspection technology / Avanced nano-scale inspection technology伍秀菁,汪若文編輯 - 初版 - 新竹市 ; 臺北縣 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版 : 民98[2009] - 24,654面 : 圖,表 ; 26公分
含參考書目
ISBN: 9789868140943NT$800Subjects--Topical Terms:
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奈米技術
奈米檢測技術 = = Avanced nano-scale inspection technology /
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
E0624650
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
440.7 2124 2009
一般使用(Normal)
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