Reliability and yield of semiconduct...
National Tsing Hua University.

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  • Reliability and yield of semiconductor products /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Reliability and yield of semiconductor products // Way Kuo.
    其他題名: 半導體產品可靠度與良率.
    作者: Kuo, Way.
    出版者: Taiwan :National Tsing Hua University, : 2000.,
    面頁冊數: 136 p. :ill. ;30 cm.
    附註: "National Tsing Hua University, December 10-15, 2000."
    叢書名: TSMC lectureship 2000.
    標題: Semiconductors. -
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
60003177 罕用書庫2A區(美崙校區,調書請點預約)(RU_2A) 01.外借(書)_YB 一般圖書 TK7871.85 K96 2000 一般使用(Normal) 在架 0
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