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發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	發明專利實體審查基準 = / 蔡瑟珍編著.
Reminder of title:	Guideines for substantive examination of invention patent /
Author:	蔡瑟珍
Published:	臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
Description:	192面 : 圖 ; 21公分
Subject:	專利 - 標準 -
ISBN:	9789860051612

發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)
蔡瑟珍

發明專利實體審查基準 = Guideines for substantive examination of invention patent / (一)蔡瑟珍編著. - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 192面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 5. - 智慧財產培訓學院教材 ; 5.

含參考文獻:面183

ISBN: 9789860051612NT$250Subjects--Topical Terms:

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專利
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發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)
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