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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for subst...

張仁平

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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	發明專利實體審查基準 = / 張仁平,謝銘洋編著.
其他題名:	Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 /
其他題名:	國際法規與案彙編
作者:	張仁平
其他作者:	謝銘洋
出版者:	臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
面頁冊數:	306面 ; 21公分
標題:	專利 - 標準 -
ISBN:	9789860078930

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
張仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / (一)國際法規與案彙編張仁平,謝銘洋編著. - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 306面 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 47. - 智慧財產培訓學院教材 ; 47.

含參考文獻:面303

ISBN: 9789860078930NT$350Subjects--Topical Terms:

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專利
--標準

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
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