發明專利實體審查基準 = = Guidelines for subst...
張仁平

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  • 發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
  • Record Type: Language materials, printed : Monograph/item
    Title/Author: 發明專利實體審查基準 = / 張仁平,謝銘洋編著.
    Reminder of title: Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 /
    remainder title: 國際法規與案彙編
    Author: 張仁平
    other author: 謝銘洋
    Published: 臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
    Description: 306面 ; 21公分
    Subject: 專利 - 標準 -
    ISBN: 9789860078930
Location:  Year:  Volume Number: 
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  • 2 records • Pages 1 •
 
GE0076840 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1121 v.1 一般使用(Normal) On shelf 0
GE0096061 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1121 2007 v.1 一般使用(Normal) On shelf 0
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