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現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In...

陳廷軒

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現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = / 陳廷軒撰
其他題名:	Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
其他題名:	Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA
作者:	陳廷軒
出版者:	[花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, : 民96[2007],
面頁冊數:	5,63面 : 圖,表 ; 30公分
附註:	指導教授︰許鈞瓏
標題:	內建自我測試 -
電子資源:	http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0730107-134435PDF全文

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
陳廷軒

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA / Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA陳廷軒撰 - [花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, 民96[2007] - 5,63面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰許鈞瓏

碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2007

參考書目︰面61-63Subjects--Topical Terms:

2620817
內建自我測試

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
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