東華大學圖書館 |

Language: English

Back

Switch To: Labeled | MARC Mode | ISBD

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In...

陳廷軒

Amazon

博客來

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = / 陳廷軒撰
Reminder of title:	Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
remainder title:	Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA
Author:	陳廷軒
Published:	[花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, : 民96[2007],
Description:	5,63面 : 圖,表 ; 30公分
Notes:	指導教授︰許鈞瓏
Subject:	內建自我測試 -
Online resource:	http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0730107-134435PDF全文

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
陳廷軒

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA / Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA陳廷軒撰 - [花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, 民96[2007] - 5,63面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰許鈞瓏

碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2007

參考書目︰面61-63Subjects--Topical Terms:

2620817
內建自我測試

現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
LDR:00823nam 2200193 i 4500 001 212460
005 20110131181635.0
008 090805n2007uuuuch e b 000 u eng d
035 $a NDHU9609053
035 $a 212460
040 $a 東華 $b chi $e ccr
066 $c $1
100 1 $a 陳廷軒 $e 撰 $3 2624522
245 1 0 $a 現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = $b Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA / $c 陳廷軒撰
246 1 1 $a Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA
260 # $a [花蓮縣] : $b 國立東華大學電機工程學系, $c 民96[2007]
300 $a 5,63面 : $b 圖,表 ; $c 30公分
500 $a 指導教授︰許鈞瓏
502 $a 碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2007
504 $a 參考書目︰面61-63
650 # 7 $a 內建自我測試 $2 csht $3 2620817
650 # 7 $a 現場可程式邏輯陣列 $2 csht $3 2624523
856 7 # $u http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0730107-134435 $z PDF全文 $2 http