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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	發明專利實體審查基準 = / 張仁平編著
Reminder of title:	Guidelines for substantive examination of invention patent /
remainder title:	Guidelines for substantive examination of invention patent
Author:	張仁平
Published:	臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2014[民103],
Description:	[11],377面 : 圖 ; 21公分
Notes:	指導單位:經濟部智慧財產局
Subject:	專利法規 -
ISBN:	9789860404630

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
張仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent / Guidelines for substantive examination of invention patent張仁平編著 - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2014[民103] - [11],377面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 8. - 智慧財產培訓學院教材 ; 8.

指導單位:經濟部智慧財產局

ISBN: 9789860404630新台幣400元Subjects--Topical Terms:

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專利法規

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
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GE0144400

四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)

01.外借(書)_YB

一般圖書

440.61 1121-2 2014

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