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利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0....

馮念中

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博客來

利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = = Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = / 馮念中撰
Reminder of title:	Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /
remainder title:	Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method
Author:	馮念中
Published:	[花蓮縣] : 國立東華大學材料科學與工程學系, : 民95[2006],
Description:	10,77面 : 圖,表 ; 30公分
Notes:	指導教授︰吳慶成
Subject:	布里茲曼 -
Online resource:	http://134.208.10.124/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0718106-160032PDF全文

利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = = Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /
馮念中

利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method / Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method馮念中撰 - [花蓮縣] : 國立東華大學材料科學與工程學系, 民95[2006] - 10,77面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰吳慶成

碩士論文--國立東華大學材料科學與工程學系,2006

參考書目︰面74-77Subjects--Topical Terms:

2459967
布里茲曼

利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = = Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /
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