利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0....
馮念中

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  • 利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = = Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 利用垂直Bridgman法成長Ge1-xSnxTe(x=0,0.8,0.9,1)晶體與其性質分析 = / 馮念中撰
    其他題名: Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method /
    其他題名: Characterization of Ge1-xSnxTe (x=0,0.8,0.9,1)Alloy Grown by Vertical Bridgman Method
    作者: 馮念中
    出版者: [花蓮縣] : 國立東華大學材料科學與工程學系, : 民95[2006],
    面頁冊數: 10,77面 : 圖,表 ; 30公分
    附註: 指導教授︰吳慶成
    標題: 布里茲曼 -
    電子資源: http://134.208.10.124/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0718106-160032PDF全文
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館藏
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