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應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identif...

謝明憙

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應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = / 謝明憙撰
Reminder of title:	Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
remainder title:	Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing
Author:	謝明憙
other author:	許鈞瓏
Published:	[花蓮縣壽豐鄉] : [國立東華大學電機工程學系], : 2012[民101],
Description:	7,53面 : 圖,表 ; 30公分
Notes:	指導教授:: 許鈞瓏,林群傑
Online resource:	http://134.208.29.93/cgi-bin/cdrfb3/gsweb.cgi?ccd=EeDpZK&o=e2&dbid=I%2B3%3D%3C19%2A%3B%25%29&dbpathf=/opt/cdrfb3/db/stdcdrf/&fuid=01&dbna=

應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
謝明憙

應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing / Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing謝明憙撰 - 初版 - [花蓮縣壽豐鄉] : [國立東華大學電機工程學系], 2012[民101] - 7,53面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授:: 許鈞瓏,林群傑

碩士論文-- 國立東華大學電機工程學系電子工程碩士班

參考書目:面51-53

贈閱Subjects--Index Terms:

三維堆疊晶片

應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
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246 1 1 $a Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing
250 $a 初版
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300 $a 7,53面 : $b 圖,表 ; $c 30公分
500 $a 指導教授:: 許鈞瓏,林群傑
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504 $a 參考書目:面51-53
563 $a 贈閱
653 0 $a 三維堆疊晶片
653 0 $a 指令暫存器配置時間
653 0 $a 穿矽孔
653 0 $a 識別碼選擇電路
653 0 $a 3D-SIC
653 0 $a IR cofiguration time
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653 0 $a ICSC
700 1 $a 許鈞瓏 $e 指導 $3 3034000
700 1 $a 林群傑 $e 指導 $3 3034001
700 1 $a Hsieh, Ming-Hsi $3 3034010
700 1 $a Hsu, Chun-Lung $3 3034003
700 1 $a Lin, Chun-Chieh $3 3034004
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