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Hawkins, Charles F.

概要

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書目資訊

IDDQ testing of VLSI circuits / by: Gulati, Ravi K.; Hawkins, Charles F. (書目-語言資料,印刷品)

Electronic circuit analysis : = basic principles / by: Hawkins, Charles F.; Neamen, Donald A.; Colclaser, Roy A. (書目-語言資料,印刷品)

主題

Integrated circuits- Very large scale integration Iddq testing. Electronic circuits. Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing. Electronic apparatus and appliances.

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