拉爾 ((Lall, Pradeep))

溫度對微電子和系統可靠性的影響 / by: 拉爾 ((Lall, Pradeep)); 貝克特 ((Pecht, Micheal G.)); 哈金 ((Hakim, Edward B.)); 賈穎; 張德駿; 劉汝軍; Lall, Pradeep; Pecht, Micheal G.; Hakim, Edward B. (Language materials, printed)