拉爾 ((Lall, Pradeep))

概要

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書目資訊

溫度對微電子和系統可靠性的影響 / by: 拉爾 ((Lall, Pradeep)); 貝克特 ((Pecht, Micheal G.)); 哈金 ((Hakim, Edward B.)); 賈穎; 張德駿; 劉汝軍; Lall, Pradeep; Pecht, Micheal G.; Hakim, Edward B. (書目-語言資料,印刷品)

主題

電子工程實驗