用電子束微影技術設計利於量測單一Sb2Se3奈米線光學特性的基板 = ...
楊承翰

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  • 用電子束微影技術設計利於量測單一Sb2Se3奈米線光學特性的基板 = = Using E-beam Lithography design a substrate for measurement of optical properties of single Sb2Se3 nanowire /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 用電子束微影技術設計利於量測單一Sb2Se3奈米線光學特性的基板 = / 楊承翰撰
    其他題名: Using E-beam Lithography design a substrate for measurement of optical properties of single Sb2Se3 nanowire /
    其他題名: Using E-beam Lithography design a substrate for measurement of optical properties of single Sb2Se3 nanowire
    作者: 楊承翰
    出版者: [花蓮縣] : 國立東華大學應用物理研究所, : 民96[2007],
    面頁冊數: 11,94面 : 圖,表 ; 30公分
    附註: 指導教授︰林子強,孫建文
    標題: 激發光螢光光譜 -
    電子資源: http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0123107-153441PDF全文
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